Micro-Epsilon bietet ein breites Sensorportfolio für die 3D-Inline-Inspektion auf unterschiedlichen Materialien. Das System surfaceControl, basierend auf dem Messprinzip der Streifenlichtprojektion für die Vermessung und Inspektion diffus reflektierender Messobjekte. Der reflectControl Sensor, basierend auf dem Messprinzip der phasenmessenden Deflektometrie zur Vermessung und Inspektion spiegelnder Oberflächen. Abgerundet wird das Portfolio durch Profilscanner, basierend auf dem Messprinzip der Lasertriangulation.
3D-Snapshot für diffus reflektierende Oberflächen
Der 3D-Snapshot-Sensor surfaceControl 3D 3500. ist für die Inline-Prüfung von Geometrie, Form und Oberfläche in der Produktionslinie konzipiert. Mit einer z-Wiederholpräzision von bis zu 0,4µm setzt der Sensor neue Maßstäbe in der 3D-Messtechnik. Damit werden kleinste Ebenheitsabweichungen und Höhenunterschiede zuverlässig erkannt. Die Messung kann auf diffus reflektierenden Oberflächen wie Metall, Kunststoff oder Keramik mit höchster Präzision und gleichzeitig hoher Geschwindigkeit in der Datenverarbeitung durchgeführt werden. Neben der schnellen Datenausgabe über GigE bietet der Sensor eine zusätzliche digitale I/O-Schnittstelle. Durch die Nutzung des 2D/3D-Gateway II stehen EtherNet/IP, Profinet sowie Ethercat zur Verfügung. Die GigE Vision Kompatibilität erlaubt die problemlose Einbindung in Bildverarbeitungssoftware von Drittanbietern. Ein umfangreiches SDK zur kundenseitigen Softwareintegration rundet das Softwarepaket ab.
3D-Inspektion auf spiegelnden Oberflächen
Die industrielle Bildverarbeitung hat Ihre Grenzen wenn es um die Prüfung spiegelnder Oberflächen geht. Hier bietet die phasenemessende Deflektometrie aufgrund ihres Messprinzips Vorteile. Micro-Epsilon ist seit 2005 in der Entwicklung und Anwendung von deflektometrischen Messsystemen aktiv und unter dem Namen reflectControl in der automatisierten Lackinspektion von Automobilkarosserien bekannt. In der Smartphone-Produktion wird das System für die Planaritätsmessung von Displaygläsern eingesetzt. Das System erfasst Ebenheitsabweichungen im Bereich weniger Mikrometer. Der Sensor kann stationär zur Überwachung der Fertigungslinie oder für die Inline-Inspektion beispielsweise am Roboter eingesetzt werden. Um z.B. die Funktionalität technischer Spiegel, die bei Laseranwendungen, Interferometern, Medizintechnik oder Mikroskopie verwendet werden, schon vor dem Systemtest sicherzustellen, wird der reflectControl rCS 130-160 eingesetzt, der es erlaubt, auf hochreflektierenden Oberflächen reproduzierbare Messergebnisse mit einer z-Auflösung von www.micro-epsilon.de