Das optische Inspektionssystem Photon von LMI bietet eine Oberflächencharakterisierung und -auswertung von mehrschichtigen, strukturierten, gemischten und anderen Materialien. Das System nutzt konfokale Linien- und Laserprofil-Sensortechnologie, um Oberflächen im Submikrometerbereich zu scannen und nutzt Encoder und Software für das automatisierte Zusammenfügen, um Materialien – bei großen Sichtfeldern – in einer Vielzahl von Offline- und At-Line-Prüfungen zu scannen. Die Funktionen zur Öberflächencharakterisierung umfassen die Ausrichtung von Objekten, die automatische Merkmalserkennung und Profilextraktion, Mehrkoordinatenmessung, Form- und Lagetoleranzen (GD&T), Analyse der Oberflächenrauheit und mehr.