Neue Merlic-Version macht Machine Vision leicht

Image: MVTec Software GmbH

MVTec Software bringt die Version 5.5 von MVTec Merlic auf den Markt, eine No-Code-Software, die insbesondere Nutzer ansprechen soll, die bislang noch keine oder nur wenig Erfahrung in der industriellen Bildverarbeitung haben. Für die verbesserte Prozessintegration wurde ein neues TCP-Socket-Plugin entwickelt, das eine textbasierte Kommunikation mit Geräten ermöglicht, die komplexe Protokolle nicht unterstützen. Benutzer können nun spezifische, einfache ASCII-Nachrichten konfigurieren, die nur die für ihre Anwendung relevanten Informationen enthalten. Diese Nachrichten können problemlos von Geräten verarbeitet werden, die komplexe Protokolle wie OPC UA nicht unterstützen. Das Plug-in kann einfach innerhalb des RTE (Laufzeitumgebung)-Setups konfiguriert werden.

Zu den neuen Technologien zählt die auf Deep Learning basierende Methode Deep Counting, die es Benutzern ermöglicht, eine große Anzahl von Objekten effizient und genau zu zählen und gleichzeitig deren Positionen zu erkennen. Dieses Feature lässt sich schnell und mit minimalem Labeling-Aufwand direkt in Merlic trainieren. Das soll den Prozess vereinfachen und die Effizienz beim Zählen von Objekten steigern, insbesondere in Szenarien mit verformbaren Materialien oder Schüttgut.

Zudem gibt es das Concept Tool, mit dem Farben unter verschiedenen Bedingungen erkannt werden. Nutzer können die Erkennungsgenauigkeit weiter verbessern, indem sie spezifische Schwellenwerte für akzeptable Abweichungen festlegen. Geeignet für eine Vielzahl von Anwendungen, wie die Inspektion oder Auswahl von Bauteilen, die Überprüfung von Kabelverbindungen oder die Bestätigung, dass der richtige Widerstand eingebaut wurde, soll dieses Tool dazu beitragen, Qualitätssicherungsprozesse zu verbessern.

Mit dem ebenfalls neuen Feature HDR-Bildgebung ist es möglich, dass hohe Kontrastunterschiede verarbeitet und über- oder unterbelichtete Bereiche in Bildern effektiv eliminiert werden. Auf diese Weise lassen sich schwierigste Lichtverhältnisse präzise darstellen und analysieren. Dies soll neue Möglichkeiten für viele Anwendungen, einschließlich der Messung reflektierender Oberflächen und der Erhöhung des Dynamikumfangs eines Bildes eröffnen.

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