Rubrik: Systeme & Lösungen

Zug-Synchronisation

Die Kombination von Messergebnissen aus der digitalen Bildkorrelation Aramis von Gom Metrology und von Infrarotkameras von InfraTec ermöglicht die gleichzeitige Analyse des thermischen und mechanischen Verhaltens von Prüfkörpern im Bereich der Material- und Bauteilprüfung.

Läppen Kontrolle

Bild 1 | Bei der Herstellung von Halbleiterwafern müssen Dicke und Oberflächenqualität nanometergenau sein. Die Wafer-Dickenmessung erfolgt daher mit Weißlichtinterferometern, die aus einem kompakten Sensor und einem Controller bestehen.

Bei der Produktion von Halbleiterwafern kommt es auf hohe Präzision an. Einer der entscheidenden Schritte ist das Läppen der Rohlinge, die dabei auf eine einheitliche Dicke gebracht werden. Um die Schichtdicke fortlaufend zu kontrollieren, eignen sich die Weißlichtinterferometer von Micro-Epsilon.

Präzise Synchronisation

Bild 1 | Das kompakte Bilderfassungstool RCAM mit geringerem Hardware- und Verdrahtungsaufwand ermöglicht Bildaufnahmen bei höherer Bewegungsgeschwindigkeit und Taktraten.

Mit dem Robot Image Capture Tool RCAM hat Evotron ein kompaktes Bilderfassungstool für Roboterarme entwickelt. Es enthält einen digital geregelten Beleuchtungscontroller, der Trigger, Kamera und Beleuchtung synchronisiert. Das Modul vereint präzises Timing, exakt belichtete Bilder sowie einen geringen Einricht- und Serviceaufwand.

Ofenraum-Thermografiekameras

Ametek Land bietet Ofenraum-Thermografiekameras mit angepassten Spektral- und Temperaturbereichen zur kontinuierlichen und hoch aufgelösten Überwachung des Ofeninnenraums, des Ofenguts, der Ausmauerung sowie dem Status der Brenner.